Q - BAIHE ICテスターICテスター74/40シリーズの新バージョンは、論理ゲートが良いか悪いかを決定することができます

商品説明

仕様：
TES200は、主に74シリーズと40シリーズのデジタル統合をテストするためのデジタル統合テスターです。200種類以上の統合をテストできます。
使いやすい、テストロジックの統合は、どのロジックゲートが不良であるかを判断することができます。キーを押してテスト統合を選択します。

アプリケーション： デジタル統合テスト。

テクニカルデータシート：
1。動作電圧7〜12VDC
2。動作電流<30 mA
3。動作温度-40℃〜65℃摂氏
4。保存温度-40℃〜65℃摂氏
5。寸法70（長さ）* 45（幅）* 40（高さ）mm

インターフェイスの説明と関連する操作
JK1電源コネクタ（DCヘッドD13）：プラス、マイナスの内側にあります。電源電圧（7〜12V）DC安定電源です。
SW1電源スイッチ
ON：電源が入っています。
OFF：電源がオフです。

キーの説明
MODE：積分タイプを選択します。 （74シリーズまたは40シリーズ）
UP：前の統合モデルを選択します。
DOWN：次の統合モデルを選択します。
テスト：選択した統合モデルをテストします。
注：テストインテグレーションをインストールする場合、テスト統合はダウンアラインされています。

パッケージ：ICテスターICテスター74/40シリーズの新バージョン